NIWeek – Firma National Instruments, dostawca platformowych rozwiązań wspierających inżynierów i naukowców w rozwiązywaniu największych problemów inżynierskich, zaprezentowała dzisiaj system do testowania urządzeń bezprzewodowych NI WTS (Wireless Test System). Jest to rozwiązanie znacznie obniżające koszty testów przy produkcji wielkoseryjnej. Pomimo rosnącej złożoności testów, dzięki zastosowaniu rozwiązania zoptymalizowanego pod kątem szybkości pomiaru i zrównoleglenia testów, producenci mogą śmiało redukować koszty i zwiększać wydajność produkcji.
– Megatrendy, takie jak Internet rzeczy (Internet of Things, IoT), powodują, że w coraz większej liczbie urządzeń znajdujemy moduły RF oraz sensory różnych typów, przez co ich testowanie staje się jeszcze bardziej kosztowne. Nie powinno to jednak hamować innowacyjności i ograniczać efektywności ekonomicznej produktu – powiedziała Olga Shapiro, zarządzająca programem pomiarów i oprzyrządowania w firmie Frost & Sullivan. – Firmy, by pozostać w przyszłości rentownymi, będą musiały przemyśleć sposób testowania urządzeń bezprzewodowych i opracować nowe wzorce. Ze względu na fakt, iż WTS został zbudowany na sprawdzonej w przemyśle platformie PXI i jest wsparty doświadczeniem NI, przewidujemy, że będzie miał znaczący wpływ na opłacalność IoT.”
WTS wykorzystuje najnowsze urządzenia z rodziny PXI, by zaoferować jedną platformę do obsługi wielu standardów, umożliwiającą testowanie wielu obiektów jednocześnie. Oprogramowanie do sekwencjonowania testów, takie jak TestStand Wireless Test Module, sprawia, że producenci mogą znacznie zwiększyć wykorzystanie sprzętu podczas równoległego testowania wielu urządzeń. WTS można w łatwy sposób zintegrować z linią produkcyjną dzięki dostępności gotowych sekwencji testowych dla urządzeń korzystających z układów scalonych firm, takich jak Qualcomm i Broadcom, a także możliwości zdalnej obsługi testu. Przedstawiona wyżej funkcjonalność zapewni klientom istotny wzrost efektywności stanowisk testowych RF oraz zredukuje koszty testowania.
– Testowaliśmy urządzenia działające w oparciu o kilka technologii bezprzewodowych – począwszy od Bluetooth, poprzez WiFi, a skończywszy na GPS oraz sieciach komórkowych – wszystkiego dokonano na jednym stanowisku, przy zastosowaniu NI Wireless Test System – powiedział Markus Krauss z firmy HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. – Wykorzystanie produktu WTS i doświadczenia firmy NOFFZ w dziedzinie testów RF pomogły nam znacząco obniżyć czas testów oraz czas potrzebny na przygotowanie i uruchomienie systemów testowych.
WTS jest najnowszym systemem National Instruments stworzonym w oparciu o sprzęt PXI oraz oprogramowanie LabVIEW i TestStand. Dzięki wsparciu standardów komunikacji bezprzewodowej – od LTE Advanced przez 802.11ac po Bluetooth Low Energy – WTS sprawdza się w testach produkcyjnych punktów dostępowych WLAN, telefonów komórkowych, systemów informacyjno-rozrywkowych oraz pozostałych urządzeń korzystających z łączności bezprzewodowej i obsługujących wiele standardów. Definiowany programowo wektorowy transceiver sygnałów PXI, znajdujący się wewnątrz WTS, jest gwarantem niezrównanej wydajności w testach produkcyjnych urządzeń RF oraz współtworzy skalowalną platformę ewoluującą razem z wymaganiami testów RF.
Więcej informacji o systemie testów urządzeń bezprzewodowych NI WTS jest dostępnych pod adresem ni.com/wts.
